可控硅，可控硅怎么测量好坏

可控硅（SiliconControlledRectifier，SCR）是一种重要的半导体器件，广泛应用于电力电子、电机控制等领域。正确测量可控硅的好坏对于确保电子设备正常运行至关重要。小编将详细介绍如何使用万用表来检测可控硅的好坏。

1.正向与反向测量

在进行可控硅好坏的测量之前，首先需要将万用表设置在电阻测量模式。

使用红表笔和黑表笔分别接触二极管的两端，并进行两次测量。

2.判断好坏

a.第一次测量若第一次测量显示高阻值或无穷大，这可能意味着被测引脚之间没有直接的电气连接，或者该引脚已经***坏。

.第二次测量若第二次测量显示低阻值，则表明被测引脚之间有正常的电气连接。

3.T2极的确定

使用万用表R1档或R100档，分别测量各管脚的反向电阻。

其中若测得两管脚的正反向电阻都很小（约100欧姆左右），即为T1和G极，而剩下的一脚为T2极。

4.T1和G极的区分

将万用表的红表笔接已判断了的阳极A，红表笔仍接阴极K。

此时万用表指针应不动，用短线瞬间短接阳极A和控制极G。

5.功能测试

确保元器件在其规定的工作条件下能够正常工作，满足功能要求。

6.耐压测试

测试元器件在高于正常工作电压的条件下的耐压能力。

7.外观检查

外观检查主要是观察可控硅的外观是否有明显的***坏，如裂纹、烧毁等。

8.电阻值测量

使用万用表测量加热管两端的电阻值，检查是否存在匝间短路、断线等故障。

9.空载试验

在额定电压下进行空载运行，测量空载电流、输入功率、转速等参数，评估电机的磁性能。

10.交流参数测试

测量交流电压、频率、相位等参数，以评估设备的电气性能。

通过以上步骤，您可以有效地使用万用表来检测可控硅的好坏。确保在操作过程中遵守安全规程，避免触电和其他潜在危险。